Sapphire热流型差示扫描量热仪

简要描述：采用热流型设计原理，其结构精致而简单，操作方便，性能*。对于质量控制和材料研究Z为理想。

产品型号：
厂商性质：代理商
更新时间：2024-05-07
访问量：1694

产品咨询联系我们

产品分类

Product Category

物理分析仪器

水分测定仪 3D光学干涉轮廓仪粘附力分析仪在线粒度仪超声粒度分析仪电声谱分析仪 Zeta电位仪介电常数测定仪激光粒度仪粘度计流变仪密度计质构仪流体稳定性分析仪折光仪（折射仪）拉力/扭矩天平光色度检测浊度计差示扫描量热仪扭矩仪旋光仪粘度计附件其它物性测试仪器

查看全部

详细介绍

Sapphire热流型差示扫描量热仪

采用热流型设计原理，其结构精致而简单，操作方便，性能*。对于质量控制和材料研究zui为理想。可用于测量材料的熔点、玻璃化温度、结晶度、固化度、纯度、比热、反应动力学、热稳定性、相转变温度等参数。
产品特点
·采用保护的椭圆形量热传感器
·炉体坚固耐用，抗腐蚀性强
·DSC基线及其平稳
·具有*的Highway TA热分析模拟软件可供选择
·具有多种冷却附件可供选择
·可选配样品自动进样器

·温度范围：-170--725゜C（样品实际能够达到的测试温度）
·温度准确度：±0.1゜C
·温度精度：±0.02゜C
·量热准确度：± 1%
·量热精度：±0.5%
·扫描速率：0.01-100゜C/min

产品咨询